BKTEM-Dx全自動熱電性能分析系統
概述:BKTEM-Dx熱電性能分析系統是一款全新的自動化熱電賽貝克系數測試儀,該儀器實現了一體化設計,無需手動,電腦軟件上可以直接抽真空,設置溫度,只要將樣品裝上之后,實現一鍵式的測量,電阻率及各個表格能夠直觀出現,其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。
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BKTEM-Dx全自動熱電性能分析系統
關鍵詞:熱電材料,Seebeck系數,電導率, 電阻率,V-1裝置
產品介紹:
BKTEM-Dx熱電性能分析系統是一款全新的自動化熱電賽貝克系數測試儀,該儀器實現了一體化設計,無需手動,電腦軟件上可以直接抽真空,設置溫度,只要將樣品裝上之后,實現一鍵式的測量,電阻率及各個表格能夠直觀出現,其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。
對于熱電材料的研究,熱電性能測試是不可或缺的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下:
該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出,自動出來測試數據和測試報告。
一、適用范圍:
1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測均可以測試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
5、擁有自身專利分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。
6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域。
二、技術特點:
一體化設計,所有參數直接在電腦上操作,無須人工干預
·解決高溫下溫控精度不準的問題,靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。
· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
·試樣采用獨特的焊偶機構,保證接觸電阻最小以及測量結果的高重現性。
· 每次可測試1-3個樣品.
· 采用高級數據采集技術,避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。
· 采用原裝進口的采集儀,測試報告自動生成。
三:主要技術:
測量溫度:室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選
同時測試樣品數量:1個,2個,3個 可選
控溫精度:0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)
升溫速率:0.01 –100K/min,極大得提高測試時間
測量原理:塞貝克系數:靜態直流電;電阻系數:四端法
測量范圍:塞貝克系數:0.5μV/K_25V/K;電阻系數:0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率:塞貝克系數:10nV/K;電阻系數: 10nOhm
測量精度:塞貝克系數:<±6%;電阻系數:<±5%
樣品尺寸:塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:≥50 nm
熱電偶導距: ≥6 mm
電 流: 0 to 160 Ma
氣 氛:0 to 160 mA
加熱電極相數/電壓:單相,220V,
夾具接觸熱阻:≤0.05 m2K/W
圖1 單一樣品測試系統原理示意圖


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